一、光耦怎么测量好坏？
方法1：用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端（即使光耦的发光二极管正向导通）。
用另一电表测量“3”“4”端电阻，断开或接通输入端（发光二极管端），输出端电阻应有大幅度变化，说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。
方法2：光耦PC817的判断方法，先用万用表二极管档检测出光耦的发光端，再在发光端加以五伏左右的电压，判断三极管端好坏。
方法3：将万用表置于R*100OΩ挡，黑表笔接1端红笔接2端，电阻一般为5KΩ-8KΩ，此值为发光二极管的正向电阻，应越小越好，反过来测的反向电阻应越大越好一般为10MΩ以上。
然后黑笔接3端，红笔接4端，阻值应在100KΩ以上，将表笔对调后，反侧的阻值应∞，否则说明光耦器损坏。在开关电源电路中，光耦及附属电路损坏是造成输出电压过高的常见原因。
这样不能证明是好的、还有一步要做的。用2块万用表同时量、让发光管发光、光电管导通才能证明是好的。1--2端可以用一节7号或5号电池待用，注意测试时间不要过长就行了。
扩展资料：
光耦817应用广泛，主要应用于电源设备上，隔离高低电压的用途。相关的终端产品应用包括家电、温控、冷气空调(HVAC)、贩卖机、照明控制装置、充电器与交换式的电源供应器。 电路之间的信号传输，使之前端与负载完全隔离，目的在于增加安全性，减小电路干扰，减化电路设计。
二、光耦如何测量好坏？
1、外观检查
首先，外观检查是评估光耦品质的一项重要步骤。仔细观察光耦的外观，检查是否存在损坏、破裂、腐蚀等问题。如果发现异常情况，可能会影响光耦的性能和寿命。
2、焊点检查
焊点是光耦中连接元件的关键部分。通过检查焊点是否牢固、均匀，可以判断光耦的连接质量。使用显微镜或放大镜来观察焊点，确保其没有裂纹、气泡或焊渣等缺陷。
3、光学特性测量
光学特性是评估光耦品质的重要指标。常见的光学特性包括光耦的传输特性、耦合效率和频响特性等。使用光功率计、光谱仪或示波器等测量设备，可以对光耦的光学性能进行精确测量和分析。
4、绝缘电阻测试
光耦通常需要具备良好的绝缘性能，以防止电气隔离失效和电流泄漏。通过绝缘电阻测试，可以评估光耦的绝缘性能是否符合要求。使用万用表或专用绝缘电阻测试仪，对光耦的绝缘电阻进行测试，并与规格要求进行比较。
5、温度特性测试
温度特性是评估光耦性能稳定性和可靠性的重要参数。光耦在不同温度条件下的性能应该是可控和可预测的。通过在不同温度下对光耦进行测试，可以评估其温度特性和温度稳定性。
6、寿命测试
寿命测试是评估光耦可靠性的重要手段。通过对光耦进行长时间的工作和应力测试，可以模拟实际应用中的使用环境，评估光耦的寿命和可靠性。常见的寿命测试包括热老化测试、振动测试、湿度测试等。这些测试可以帮助确定光耦在长期使用中是否能够保持稳定的性能，并且能够在各种环境条件下正常工作。
7、安全性能测试
光耦在某些领域，如医疗设备或高压电力系统中，需要具备良好的安全性能，以防止电击或火灾等风险。安全性能测试可以评估光耦的耐压能力和电气隔离效果。通过对光耦进行高压测试和绝缘性能测试，可以确保其符合相关安全标准和规定。
三、开关电源光耦短路法？
开关电源光耦短路法是具有信号单向传输性，从而实现输入端与输出端的电气隔离，即：输出信号对输入端无影响，具有抗干扰能力强、工作特性稳定、高可靠性、传输效率高等优点，通常被应用与开关电源控制回路中。光耦在开关电源中的典型应用原理：从输出端采样，获取误差信号，然后把信号通过转换、隔离传输到输入端控制器，通过调占空比的大小，实现高精度稳压输出。
四、开关电源光耦拆掉后果？
开关电源拆除光耦upc519，这将引起开关电源失控，电压升高烧坏场效应电源管。有光耦输入端串入TL431组成的稳压电路，以TL431的2.5v为基准稳压值，当输出电压输出高于正常电压，检测电路就会高于2.5vTL431就会启动于地形成回路点亮光耦，有光耦输出控制电源管理芯片去控场效应管的导通截止的时间，直到TL431的2.5v电压正常。所以拆除光耦开关电源是无法有稳定的电压输出。
五、7800光耦怎么测量好坏？
更换新的a7800光耦，再拆下原机光耦a7800就知道是好是坏了。
数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路。
检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Ｈfe 的ｃ、ｅ插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。
这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。
指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
六、高速光耦测量方法？
光耦测量方法 用两个万用表就可以测了。 光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器４Ｎ２５，采用ＤＩＰ－６封装，共六个
七、817光耦怎么测量好坏？
1. 测量817光耦的好坏是可行的。2. 光耦作为一种电子元器件，其好坏可以通过测试其输入与输出之间的电阻值来评估。一般来说，如果输出电阻小于输入电阻，则可以认为817光耦是正常的；反之，则可能存在问题需要进一步检查或更换。3. 如果想更加准确地测量817光耦的好坏，可以使用示波器来监测输入和输出之间的波形和信号传输情况。此外，还可以通过对光耦结构的仔细检查和比较来判断其是否存在损坏或质量问题，例如检查其外观和焊点的情况。
八、通讯光耦怎么测量好坏？
通讯光耦的好坏通常通过以下几个方面来测量：
1.传输速率：一般来说，通讯光耦的传输速率越快，则系统的传输速度就越快。因此，可以采用负载测试设备，通过测试光耦的传输速率来判断其好坏程度。
2.信噪比：光信号在传输中会受到各种干扰，如果光耦的信噪比不高，那么它传输的信号就会受到大量的噪声干扰。可以使用光功率计来测试光耦的信噪比。
3.插损：光耦的插损需要尽可能小，否则会影响整个系统的信号传输。可以使用光功率计和光源来测试光耦的插损。
4.稳定性：光耦的稳定性越好，其传输的数据就越准确。可以通过静态测试和动态测试来测试光耦的稳定性。
总之，测试通讯光耦好坏需要从传输速率、信噪比、插损和稳定性几个方面进行测量，并采用适当的测试工具来进行测试，从而得出结论。
九、开关电源光耦坏了什么故障？
1.通光耦产品手册中对电流传输比只给出一个大概的范围(从低到高可以差别一倍)，而且没有给出温漂和老化的指标。用于开环传输模拟量，精度是得不到保证的，所以导致过压、过流，以致损坏。
2.另外，光耦中的发光二极管随着时间推移而老化；开关电源反馈环路中光耦老化，传输比下降后可能引发故障。
十、a7840光耦怎么测量好坏？
一般万用表测量不出来，要通电测试。建议直接换新的吧。